Iijima Y., Muroga T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Hirayama T., Hirabayashi I., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, buffer layers, grain alignment, microstructure, IBAD process, PLD process, fabrication, coated conductors
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Ajimura S., Sutoh Y.(ysutoh@fujikura.co.jp)
Iijima Y., Goto T., Muroga T., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Shiohara Y., Watanabe T., Honjo T., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Miyata S., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, critical caracteristics
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Iwakuma M.(iwakuma@sc.kyushu-u.ac.jp), Funaki K., Yamada Y., Toyota K., Nigo M.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Yajima A., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate Hastelloy, IBAD process, microstructure, precursors, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Amemiya N., Jiang Z., Iijima Y., Saitoh T., Shiohara Y., Yamada M., Nishioka T.(nishi@rain.dnj.ynu.ac.jp)
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y.(fukumoto@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Sawa H.
Saitoh T., Goto K., Nakatsuka T., Suzuki C.(csuzuki@rd.fujikura.co.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, tapes, magnets, mechanical strain, cables, power transmission lines, power equipment, magnetic properties, winding process
Iijima Y., Kakimoto K.(kakimoto@rd.fujikura.co.jp), Saitoh T.
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Honjo T.(honjo@istec.or.jp), Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Shibata J., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp)
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Kuga T., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Yamauchi K.(yamauchi@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Kiuchi M.
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Kuga T., Ishimaru M., Matsushita T., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp)
Nagaya S., Kashima N., Saitoh T., Onabe K.(onabe@rd.fujikura.co.jp), Doi T.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp)
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Saitoh T., Shiohara Y., Kiss T.(kiss@sc.kyushu-u.ac.jp), Inoue M., Kuga T., Ishimaru M., Egashira S., Irie S., Ohta T., Imamura K., Yasunaga M., Matsushita T., Kakimoto K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, current-voltage characteristics, n-value, fabrication, critical caracteristics, length
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Inoue M., Kuga T., Ishimaru M., Egashira S., Matsushita T., Kakimoto K.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.